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Applications of atomic force microscopy-based imaging and force spectroscopy in assessing environmental interfacial processes

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发表刊物：Crit. Rev. Environ. Sci. Technol.

第一作者：Zhang Yuyao

合写作者：Zhu, X., Chu, C., Xiao, X. Chen, B.

论文类型：期刊论文

卷号：52

期号：14

页面范围：2421-2452

是否译文：否

发表时间：2021-01-01

上一条：In situ quantitative determination of the intermolecular attraction between amines and a graphene surface using atomic force microscopy